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江苏一六仪器有限公司

主营: 测厚仪,标准片

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江苏一六仪器有限公司
第7年 |    
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南通测厚仪***「在线咨询」

发布时间:2021-11-05 19:38:00        作者:一六仪器







一六仪器 ***测厚仪 多道脉冲分析采集,***EFP算法  X射线荧光镀层测厚仪 

应用于电子元器件,LED和照明,家用电器,通讯,汽车电子领域.EFP算法结合***定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(CI)- 铀(U)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um***xiao测量面积0.002m㎡  ***深凹槽20mm以上

镀层厚度分析仪使用注意事项

1.仪器供电电压必须与仪器铭牌上的电压一致。仪器必须使用三线插头连到一个已接地的插座上。

2.镀层厚度分析仪为精密仪器,建议配备高精度的稳压电源。计算机和仪器应配备不间断电源(UPS)。

3.镀层厚度分析仪应特别注意与存在电磁的场合隔离开来。

4.仪器适合在10~40℃(50~104℉)的环境温度下操作使用,在0~50℃(32~122℉)的温度下存放。操作和存放的允许湿度范围在0~65%之间(非冷凝)。在操作过程中,环境温度和湿度应保持恒定。

5.仪器曝晒在阳光下时温度极易超过50℃。所以请不要在这样的环境下操作和存放仪器,以避免高温对仪器造成损害。

6.为避免短路,严禁仪器与液体直接接触。如果液体进入仪器,请立刻关闭仪器并在重新使用前请技术人员整体检查仪器。

7.镀层厚度分析仪不能用于酸性环境和***场合。

8.不要弄脏和刮擦元素片或调校标准片,否则会造成读数错误。

9.不要用任何机械或化学的方法清除元素片或调校标准片上的污物。如果必要的话,可以用一块不起毛的布轻轻擦除脏物。


      江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们***的研发团队具备十年以上的从业经验,经与海内外多名***通力合作,研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪

      X荧光光谱仪原理及应用领域

一、简单原理

      每个元素受高能辐射激发,即发射出具有一定特征的X射线谱线。通过软件测试分析得出该谱线波长,即可知道是那种元素(定性);通过分析测试其强度,得出该元素含量(定量)。X荧光光谱分析是一种非常常见的分析技术,

二、应用领域

     X荧光光谱仪作为一种常见的分析技术手段,在现实生活中有着非常广泛的应用,主要可以分为以下四大类:

1.镀层行业

     电镀行业尤其以工业电镀为主,在工业生产中,通常我们为了产品尤其是金属类能达到一定的性能会在其表面镀上另一种金属,这种金属电镀的膜厚往往是受管控,而X荧光光谱仪就是其best的管控者。


2.重金属检测

      我们的衣服帽子、喝水的杯子、小孩的玩具等等这些都跟我们有着紧密的关联,但这其中也许就含有对我们人体是有害的重金属,如Cr、Br、Cl、Pb、Hg、Cd、As等长期接触会导致人体的病变甚至***,为了使用安全,工业生产时需对产品重金属检测管控(RoHS检测),而X荧光仪器就能对其进行监测。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。

3.元素成分分析

      元素成分分析应用也是更加广泛,如岩石矿产的开发开采,钢铁、铜合金、铝合金等可能因某一种元素的含量不同就会大大改变其物理性质,为达到这种物理性质就需要控制相关元素的含量,通过X荧光仪器的检测就可以很好的生产出我们所需的物品,另外还可以利用成分分析原理对珠宝首饰进行真假鉴定。江苏一六仪器X射线荧光光谱测厚仪一次性同时分析:23层镀层,24种元素厚度***di检出限:0。

4.古董的检测

     X荧光仪器在古董的检测鉴定上也起着重要的作用,通过仪器检测对产品进行定性分析可得其元素成分,从而对产品的年限进行一个判断,得出结论。



一次可同时分析:23层镀层,24种元素   厚度检出限:0.005um

江苏一六仪器   X荧光光谱测厚仪 优点    

X射线荧光能谱仪没有复杂的分光系统,结构简单。X射线激发源可用X射线发生器,也可用***性同位素。能量色散用脉冲幅度分析器。探测器和记录等与X射线荧光光谱仪相同。

    X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪各有优缺点。前者分辨率高,对轻、重元素测定的适应性广。对高低含量的元素测定灵敏度均能满足要求。参考标准块的有效或限定表面的任何位置的覆盖层不能超过规定值的±5%。后者的X射线探测的几何效率可提高2~3数量级,灵敏度高。可以对能量范围很宽的X射线同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定。对于能量小于2万电子伏特左右的能谱的分辨率差。


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